四探針電阻率測試儀也有很多種，例如高溫的或者常溫的，不同的四探針電阻率測試儀針對不同的材料測量的參數也是不同的。

    舉例，高溫四探針電阻率測試儀可以測量硅、鍺單晶電阻率和硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導電玻璃和其他導電薄膜的方塊電阻，主要用于評估半導體薄膜和薄片的導電。

    高溫四探針電阻率測試儀就是，主要測量的參數就是半導體材料的電阻、電阻率、方塊電阻等。

    電阻率測試儀特點

    多參數同屏顯示：電阻率、溫度同屏顯示。

    微機化：采用高CPU芯片、AD轉換技

    術和SMT貼片技術完成電阻率和溫度的測量、溫度補償、量程自動轉換，精度高，重復性好。

    高可靠性：單板結構，觸摸式按鍵，無開關旋鈕和電位器。

    自動轉換測量頻率：避免電極極化，提高測量精度。

    相敏檢波設計：消除導線對測量的影響。

    25℃折算：溫度補償自動測量/手動輸入。

    防水防塵設計：防護等級IP65，適宜戶外使用。

    電磁兼容性(EMC/RFI)設計：按歐洲標準EN50081/50082設計制造。

    報警功能：報警信號隔離輸出，報警上、下限可任意設定，報警滯后撤消。

    工業控制式看門狗：確保儀表不會死機。

    網絡功能：隔離的電流輸出和RS485通訊接口；電流對應電阻率的輸出上、下限可任意設定。

    采用流通式、沉入式、法蘭式或管道安裝。