介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀產(chǎn)品介紹及設(shè)備優(yōu)勢(shì)

介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀產(chǎn)品介紹及設(shè)備優(yōu)勢(shì)

一、產(chǎn)品介紹

絕緣材料高頻介質(zhì)損耗測(cè)試系統(tǒng)由S916測(cè)試裝置（夾具）、QBG-3E/QBG-3F/AS2853A型高頻Q表、數(shù)據(jù)采集和tanδ自動(dòng)測(cè)量控件（裝入QBG-3E/QBG-3F或AS2853A的軟件模塊）、及LKI-1型電感器組成。它依據(jù)GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標(biāo)ASTM D150以及電工委員會(huì)IEC60250的規(guī)定設(shè)計(jì)制作。

系統(tǒng)提供了絕緣材料的高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)自動(dòng)測(cè)量的較好解決方案。本儀器中測(cè)試裝置是由平板電容器組成，平板電容器一般用來(lái)夾被測(cè)樣品，配用Q表作為指示儀器。絕緣材料的損耗角正切值是通過(guò)被測(cè)樣品放入平板電容器和不放樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數(shù)通過(guò)公式計(jì)算得到。使用QBG-3E或AS2853A數(shù)字Q表具有自動(dòng)計(jì)算介電常數(shù)（ε)和介質(zhì)損耗

(tanδ)。

二、設(shè)備優(yōu)勢(shì)

1. DDS數(shù)字直接合成的信號(hào)源，確保信源的高葆真、幅度的高穩(wěn)定。頻率到0.1Hz,確保高Q值時(shí)測(cè)量的度遠(yuǎn)超DPLL信號(hào)源。Q分辨率至0.1Q，tanδ分辨率至0.00001。

2. 雙掃描技術(shù)-測(cè)試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動(dòng)調(diào)諧搜索功能。

3. 雙數(shù)碼化調(diào)諧-數(shù)碼化頻率調(diào)諧，數(shù)碼化電容調(diào)諧。

4自動(dòng)化測(cè)量技術(shù)-對(duì)測(cè)試件實(shí)施Q值、諧振點(diǎn)頻率和電容的自動(dòng)測(cè)量。

5計(jì)算機(jī)自動(dòng)修正技術(shù)和測(cè)試回路優(yōu)化一使測(cè)試回路殘余電感減至低，*Q讀數(shù)值在不同頻率時(shí)要加以修正的困惑，保證100MHz的(tanδ)和(ε)的誤差較小。

6. 能對(duì)固體絕緣材料在100kHz?100MHz介質(zhì)損耗角(tanδ)和介電常數(shù)(ε)變化的測(cè)試。

7. 大屏幕菜單式顯示多參數(shù)：介電常數(shù)(ε),介質(zhì)損耗角(tanδ),Q值，測(cè)試頻率，調(diào)諧狀態(tài)和調(diào)諧電容值等。

8. DSS數(shù)字合成信號(hào)發(fā)生10kHz?70MHz(QBG-3E),10kHz?110MHz(QBG-3F),50kHz? 160MHz(AS2853A)測(cè)試信號(hào)。獨(dú)立信號(hào)源輸出口，所以本機(jī)又是一臺(tái)合成信號(hào)源。

9. Q值量程自動(dòng)/手動(dòng)量程控制。