北京華測四探針測試儀產(chǎn)品簡介

                                                           型號：HC-ST31

產(chǎn)品簡介：

采用由四端測量方法測試電阻率系統(tǒng)與高溫試驗箱結(jié)合配置的高溫測試探針治具，滿足半導體及導體材料因溫度變化對電阻值變化的測量要求，通過測控軟件可以顯示出溫度與電阻，電阻率，電導率數(shù)據(jù)的變化曲線，是檢驗和分析材料質(zhì)量的一種重要的工具。

公司主營產(chǎn)品——幾大系列：
介電擊穿強度試驗儀（電壓擊穿試驗儀）、表面體積電阻率測試儀（高阻計）、電痕化指數(shù)試驗儀（漏電起痕試驗儀）、耐電弧試驗儀、沖擊電壓試驗儀、沖擊電流試驗儀、耐電壓試驗儀、高壓電容電橋、高頻Q表、安規(guī)綜合測試儀、泄漏電流測試儀、靜電計、飛安表、高阻高壓表、電荷量表、多功能精密傳感器分析測試儀等近30種產(chǎn)品。