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塞貝克系數(shù)電阻測試儀先進(jìn)功能材料電測綜合測試系統(tǒng)- 絕緣電阻劣化（離子遷移）評估系統(tǒng) 儲能新材料電學(xué)綜合測試系統(tǒng) 半導(dǎo)體封裝材料真空探針臺空間電荷測試系統(tǒng) 電容器溫度特性評估系統(tǒng) 高頻高壓絕緣電阻、介電多通道極化裝置鐵電分析儀高壓功率放大器絕緣電阻率測試儀高低溫冷熱臺測試系統(tǒng) 50點(diǎn)耐壓測試儀電壓擊穿測定儀耐電弧試驗(yàn)儀探針臺漏電起痕試驗(yàn)儀多通道介電與電阻測試系統(tǒng)

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Huace FE-2000北京華測鐵電壓電分析儀、鐵電測試儀器

更新時(shí)間：2025-01-14

型號：Huace FE-2000

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北京華測鐵電壓電分析儀、鐵電測試儀器由華測儀器多位工程師多年開發(fā)，其具有測試功能，設(shè)備測試頻率可達(dá)1MHz，40M的高速采樣速度。測試功能上也增加了介電溫譜、電卡測試、TSDC、電阻等測量功能。它能夠在不同測量條件和測量模式下進(jìn)行連續(xù)和高速的測量。
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沖電聲法交直流場下的空間電荷測量系統(tǒng)

更新時(shí)間：2025-05-08

型號：

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沖電聲法交直流場下的空間電荷測量系統(tǒng)，空間電荷的存在是導(dǎo)致高壓直流聚合物電纜過早失效的主要原因，而且也是防止此類電纜快速劣化的主要原因。而且已經(jīng)表明可以通過空間電荷測量來診斷在使用應(yīng)力下的絕緣劣化。
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電容器溫度/電介質(zhì)特性評估系統(tǒng)

更新時(shí)間：2025-05-08

型號：

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電容器溫度/電介質(zhì)特性評估系統(tǒng)，是將環(huán)境試驗(yàn)箱與測量和評估系統(tǒng)相結(jié)合，高效采集數(shù)據(jù)的自動(dòng)化多通道系統(tǒng)。自動(dòng)記錄電容器的溫度和頻率特性。
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HCCT-40HMLCC電容器溫度特性測試系統(tǒng)

更新時(shí)間：2024-12-26

型號：HCCT-40H

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MLCC電容器溫度特性測試系統(tǒng) 通過模擬電容器在實(shí)際應(yīng)用中可能遇到的各種溫度條件，測量并記錄電容器的關(guān)鍵參數(shù)（如電容值、損耗角正切值等）隨溫度的變化情況。這些數(shù)據(jù)對于評估電容器的溫度穩(wěn)定性、預(yù)測其使用壽命以及優(yōu)化電路設(shè)計(jì)具有重要意義。
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儲能新材料電學(xué)綜合測試系統(tǒng)/熱釋電測試

更新時(shí)間：2024-12-12

型號：

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儲能新材料電學(xué)綜合測試系統(tǒng)/熱釋電測試，可進(jìn)行電壓擊穿（介電場強(qiáng)）、高低頻介電頻譜、溫譜、高溫絕緣電阻、熱釋電測試、TSDC熱刺激極化電流、充放電儲能密度測試、電聲脈沖法空間電荷測量、靜電電壓等。
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華測鐵電分析儀/變溫鐵電測試盒

更新時(shí)間：2024-12-06

型號：

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華測鐵電分析儀/變溫鐵電測試盒，鐵電材料參數(shù)測試儀主要是由正弦波、三角波、間歇三角波、梯形波發(fā)生器及正、負(fù)矩形脈沖和雙極性雙脈沖發(fā)生器外加鐵電材料電滯回線、I-V特性及開關(guān)特性測量電路構(gòu)成。適用于鐵電薄膜、鐵電體材料的電性能測量，可測量鐵電薄膜電滯回線、I-V特性及開關(guān)特性，可準(zhǔn)確地測出具有非對稱電滯回線鐵電薄膜的Pr值?？蓽y鐵電體材料的電滯回線及IV特性。
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儲能新材料電學(xué)綜合測試系統(tǒng)/高溫絕緣電阻

更新時(shí)間：2024-12-12

型號：

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儲能新材料電學(xué)綜合測試系統(tǒng)/介電場強(qiáng)，可進(jìn)行電壓擊穿（介電場強(qiáng)）、高低頻介電頻譜、溫譜、高溫絕緣電阻、熱釋電測試、TSDC熱刺激極化電流、充放電儲能密度測試、電聲脈沖法空間電荷測量、靜電電壓等。儲能新材料電學(xué)綜合測試系統(tǒng)/高溫絕緣電阻
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儲能新材料電學(xué)綜合測試系統(tǒng)/介電場強(qiáng)

更新時(shí)間：2024-12-12

型號：

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儲能新材料電學(xué)綜合測試系統(tǒng)/介電場強(qiáng)，可進(jìn)行電壓擊穿（介電場強(qiáng)）、高低頻介電頻譜、溫譜、高溫絕緣電阻、熱釋電測試、TSDC熱刺激極化電流、充放電儲能密度測試、電聲脈沖法空間電荷測量、靜電電壓等。
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