復合導電材料高溫四探針測試機

簡要描述：復合導電材料高溫四探針測試機Huace-600，該系統可以測量硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導電玻璃（ITO）和其它導電薄膜的方塊電阻，該設備按照單晶硅物理測試方法標準設計的。

產品型號：Huace-600
廠商性質：生產廠家
更新時間：2024-07-08
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功能材料測試儀器

傳感器多功能綜合測試系統先進功能材料電測綜合測試系統長期耐腐蝕老化試驗平臺- 高電場介電、損耗、漏電流測試系統阻抗分析儀鐵電綜合材料測試系統鐵電分析儀高壓功率放大器 D33壓電系數測試儀高溫介電溫譜測試儀熱釋電測試儀 TSDC熱刺激電流測試儀高壓極化裝置高低溫冷熱臺簡易探針臺高溫四探針測試儀多通道電流采集系統高真空退火爐電學綜合測試系統高溫管式爐測試儀漆包線擊穿耐壓試驗儀電化學遷移測試系統水平垂直燃燒測定機陶瓷材料閃燒試驗裝置導通電評估系統差熱分析儀醫用接地電阻

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詳細介紹

品牌	HUACE/北京華測	電動機功率	*kW
外形尺寸	680X450X400mm	重量	20kg
應用領域	化工,能源,電子/電池,電氣,綜合	測量溫度	室溫---600°C?
控溫精度	±1℃?	顯示精度	±0.1℃
樣品	直徑15~30mm，厚度小于4mm

復合導電材料高溫四探針測試機Huace-600

復合導電材料高溫四探針測試機Huace-600概述：

●Huace-600高溫四探針測量系統，該系統可以測量硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導電玻璃（ITO）和其它導電薄膜的方塊電阻，該設備按照單晶硅物理測試方法標準設計的。

●采用由四端測量方法測試電阻率系統與高溫試驗箱為一體的的高溫測試系統，滿足半導體及導體材料因溫度變化對電阻值變化的測量要求，通以在高溫、真空、氣氛的條件下測量導電材料電阻和電阻率，可以分析被測樣的電阻和電阻率隨溫度、時間變化的曲線．目前主要針對圓片、方塊、長條等樣品進行測試，可以廣泛用于碳系導電材料、金屬系導電材料、金屬氧化物系導電材料、結構型高分子導電材料、復合導電材料等材料的電阻率測量。過測控軟件可以顯示出溫度與電阻，電阻率，電導率數據的變化曲線。

儀器特點：

1、可以測量高溫、真空、氣氛下薄膜方塊電阻和薄層電阻率；

2、軟件、觸摸屏、高溫爐等集成于一體，可以進行可視化操作；

3、可實現純凈氣氛條件下的測量；同時保證探針在高溫下不氧化；

4、采用labview軟件開發，操控性、兼容性好、方便升級；

5、可自動調節樣品測試電壓，探針和薄膜接觸閃絡現象；

6、控溫和測溫采用同一個傳感器，保證樣品每次采集的溫度都是樣品實際溫度；

7、可配套使用Keithley2400或2600數字多用表；

特點：

● 多級循環溫度采集技術：設備采用PID算法，以及多級循環溫度采集以保證溫度的有效值。控溫和測溫采用同一個傳感器，保證樣品每次采集的溫度都是樣品實際溫度.

● 雙系統互鎖技術及隔離屏蔽技術：本設備不僅具備過壓、過流保護系統，它雙系統互鎖機制，當任何元器件出現問題或單系統出現故障時，將瞬間切斷電源。采用低通濾波電流檢測技術以保證采集電流的有效值，以及電流抗干擾的屏蔽。

● SPWM電子升壓技術目前設備大都采用SPWM電子升壓技術，這一技術具有升壓速度平穩，精度高。便于維護等優點是調壓器。

技術參數	●測量溫度：室溫---600°C ;
	●控溫精度：±1℃ ，
	●顯示精度：±0.1℃；
	●升溫斜率：1-5°C/min；
	●測量精度：0.05%；
	●電阻率：10-5 ～105 Ω.cm ;
	●電導率：10-5 ～105 s/cm
	●方塊電阻：10-4 ～106 Ω/□；
	●電阻：10-5 ～105 Ω；
	●探針間距：2±0.01mm；
	●探針壓力：0~2kg可調；
	●針間絕緣電阻：≥1000MΩ；
	●真空腔體漏率標準要小于10-9 Pa?m3/s ;
	●樣品：直徑15~30mm，厚度小于4mm；
	●設備尺寸：680mmX450mmX400mm

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